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扫描电镜对试样有哪些要求和要求
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。扫描电镜(ScanningElectronMicroscope,简称SEM)是一种高能电子显微镜,用于观察微小物体的结构、形态...
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扫描电镜操作教程
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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样品处理的基本要求是什么
纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。样品处理是进行实验和分析的...
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扫描电镜样品预处理
扫描电镜(SEM)是一种广泛用于表征材料微观结构的技术。话说回来,为了获得准确的图像,必须对样品进行预处理。本文将介绍扫描电镜样品预处理的方法。1.样品准备在样品预处理之前,必须准备好样品。样品可以来...
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扫描电镜的样品制备要求有哪些
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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扫描电镜实验的注意事项
扫描电镜实验是一种广泛用于研究材料结构和性质的实验技术。话说回来,由于扫描电镜的复杂性,实验操作时需要注意一些事项。本文将介绍扫描电镜实验的注意事项,包括实验操作的安全性、正确使用扫描电镜以及数据处理...
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sem样品制备注意事项
纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。Sem样品制备是研究化学和...
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用于透射电镜观察的样品必须要满足哪些基本的条件
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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sem样品制备的基本原则
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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凭样品买卖的基本要求是什么
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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